FPGA易测试性分析

(1) 插入内核
　　
这步是配置测试内核，把它插入到FPGA设计中。例如，在使用ALTERA或Xilinx器件时，可以使用FPGA开发工求购电感具提供的逻辑分析仪接口编辑器，创建最适合自己需求的测试核。
　　
对大多数的测试内核，可以指定下述参数：
　　
①针脚数量(pin count)：表示希望专用于逻辑分析仪接口的针脚数量；
　　
②组数(bank count)：表示希望映射到每个针脚上的内部信号数量；
　　
③输出／捕获模式(output／capture mode)：选择希望执行的采集类型；可以选择组合逻辑／定时模式(combina-tion／timing)或寄存器／状态模式(registered／state)；
　　
④时钟(clock)：如果用户选择了registered／state扁平型电感的捕获模式，这一选项允许选择测试内核的取样时钟；
　　
⑤通电状态(power-up state)：这个参数允许指明用于逻辑分析仪接口的针脚的通电状态。
　　
(2) 把测试内核信息加载到FPGAView中
　　
从FPGAView软件窗口中，可以与JTAG编程电缆建立连接，并且连接到TLA系列逻辑分析仪(TLA逻辑分析仪使用Windows平台)或PC工作站上。
　　
在使用ALTERA FPGA芯片时，按打开(Open)工具条按钮，调出一个文件浏览器，选择QuartusⅡLAI Editor软件以前生成的逻辑分析仪接口(.lai)文件。这样就加载了与LAI核心有关的所有信息，包括每一组的信号数量、组数和信号名称，另外如果设备中的LAI内核多于一个，那么还包括每个LAI内核的信息。

(3) 把FPGA针脚映射到逻辑分析仪上
　　
映射FPGA针脚电感器电路和TLA逻辑分析仪探头之间的物理连接。FPGAView可以自动更新逻辑分析仪上显示的信号名称，与测试内核当前监测的信号相匹配。为此，简单地点击探头(probes)按钮，将出现一个拖放窗口，把测试内核输出信号名称与逻辑分析仪上的相应通道连接起来。对某条目标连接，这个通道分配过程只需一次。
　　
(4) 进行测量
　　
使用组(bank)列表下拉菜单，选择想要测量的组。一旦选择了组，FPGAView会通过JTAG接口与FPGA通信，并配置测试内核，以便选择希望的组。
　　
FPGAView还将这些通道名称通过对TLA系列逻辑分析仪的控制进行自动分配，从而可以简便地理解测量结果。为测量不同的一套内部信号，用户只需选择不同的信号组。全功能TLA系列逻辑分析仪会自动地把这些FPGA信号与系统中的其他信号关联起来。
　　
在TLA逻辑分析仪中，针对设计人员关心的各种时间信息，提供了业内独有的定时参数自动测量功能，通过鼠标简单地拖放操作，能够得到周期、频率、占空比、脉冲宽度、通道／通道延迟、边沿计数、周期计数、违规计数、周期抖动、以及周期间抖动等信息。
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6 结论
　　
调试针对Altera和Xilinx的FPGA系统时用嵌入式逻辑分析仪和外部逻辑分析仪这2种模压电感方法各有其优势和不足，而FPGAView等新方法进一步提高了外部逻辑分析仪方法的吸引力。能够快速方便地移动探点，而不需重新汇编设计，同时能够把内部FPGA信号活动与电路板级信号关联起来，能够较好地满足产品开发周期的要求。 平面变压器厂家 | 平面电感厂家

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